胎心监护afm线什么意思，AFm 是什么意思

本文目录一览

1，AFm 是什么意思
2，图谱解析AFMSEMSTM上的标尺代表什么意思
3，胎心监护是什么
4，尺寸的AFM测量是什么意思
5，AFM什么意思
6，胎心监护是什么意思
7，AFM的介绍

1，AFm 是什么意思

原子力显微镜（ AFM ）的原理是利用针尖与样品表面原子间的微弱作用力来作为反馈信号，维持针尖——样品间作用力恒定，同时针尖在样品表面扫描，从而得知样品表面的高低起伏。

AFm 是什么意思

2，图谱解析AFMSEMSTM上的标尺代表什么意思

AFM图中的颜色代表不同的高度，颜色越亮，代表这个位置的高度越高；颜色越暗，代表高度越低。1、你给的文件中，上面那幅图中一堆亮的点是由于高度过大或者扫描参数没有调到最佳值，成像有点失真。对于高度的测量应该还有一个Z方向的标尺，通过AFM的相关软件可以直接分析。2、下面的两张图中就给出了那条亮线对应的高度，及相同颜色两点的高度差。

图谱解析AFMSEMSTM上的标尺代表什么意思

3，胎心监护是什么

我31周的时候去产检，医生叫过半个月去做胎心监护。后天就要去了

我们这医生非得你肚子疼或者胎动不好才叫你做胎监

我这20元一次，就是看宝宝有没有动，胎心什么的，一般36周开始做！

我36周了还没有做，不知道再一个星期去产检会不会要求做。

主要看宝宝缺氧否，我是七个月开始每次产检做一次

胎心监护是什么

4，尺寸的AFM测量是什么意思

AFM是Atomic Force Microscope的缩写，即原子力显微镜。AFM利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体，也可以观察非导体，从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研究中心的格尔德·宾宁于一九八五年所发明的，其目的是为了使非导体也可以采用类似扫描探针显微镜（SPM）的观测方法。原子力显微镜（AFM）与扫描隧道显微镜（STM）最大的差别在于并非利用电子隧穿效应，而是检测原子之间的接触，原子键合，范德瓦耳斯力或卡西米尔效应等来呈现样品的表面特性。关于详细的AFM测量原理及其优缺点，请题主参考百度百科及其它网络资源。

5，AFM什么意思

Air Force Manual 〈美〉《空军手册》 1. 高级调频 A-fader 音频衰减...AFM adance frequency modulation 高级调频...AFS acoustic feedback speaker 声反馈扬声器 2. 原子力显微镜 AFI Atrial Filling Index 心房充盈指数...AFM Atomic Force Microscope 原子力显微镜...AFP Adiabatic Fast Passage 绝热快速通道 3. 耐摩金属 afloat浮...AFM耐摩金属...AFMag method声频磁法 4. 利用原子力显微镜报道了以聚酰亚胺(polyimide)作为绝缘层,并五苯作为活动层的一种全有机场效应晶体管。利用原子力显微镜(AFM)分析了聚酰亚胺薄膜及其表面并五苯薄膜的形貌;采用顶电极接触结构,测量出其场效应晶体管的输出特性曲线,并得出其场效应迁移率为0.079m2/(V.s),开关电流比约为104。

6，胎心监护是什么意思

36周起监测宝宝的心跳和胎动，看是否正常。

胎心监护是胎心胎动宫缩图的简称，是应用胎心率电子监护仪将胎心率曲线和宫缩压力波形记下来供临床分析的图形，是正确评估胎儿宫内的状况的主要检测手段.采用微波技术，对小孩没有危害，只需要买胎心检测仪即可。尤其是怀孕4月个以后，自己对baby监护很重要。有趣的事有时还能够听到baby的打嗝声。胎心监护上主要是两条线，上面一条是胎心率，正常情况下波动在120－160之间，一般表现为基础心率线表现为一条波形直线，出现胎动时心率会上升，出现一个向上突起的曲线，胎动结束后会慢慢下降，胎动计数>30次／12小时为正常，<10次每12小时提示胎儿缺氧。下面一条表示宫内压力，只要在宫缩时会增高，随后会保持20mmHg左右。胎心监护胎儿心率受交感神经和副交感神经调节，通过信号描记瞬间的胎心变化所形成的监护图形的曲线，可以了解胎动时、宫缩时胎心的反应，以推测宫内胎儿有无缺氧。正常妊娠从怀孕第37周开始每周做一次胎心监护，如有合并症或并发症，可以从怀孕第28~30周开始做。应注意胎心音的节律性是否忽快忽慢等，正常胎心音120～160次/分，如果胎心音160次/分以上或持续100次/分都表示胎儿宫内缺氧，应及时治疗。

7，AFM的介绍

AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是继扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope）之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵；现已广泛应用于半导体、纳米功能材料、生物、化工、食品、医药研究和科研院所各种纳米相关学科的研究实验等领域中，成为纳米科学研究的基本工具。

原子力显微镜(atomic force microscope, afm)是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。1981年，stm（scanning tunneling microscopy, 扫描隧道显微镜）由ibm-zurich 的binnig and rohrer 发明。1982年，binnig首次观察到原子分辨图si(7x7)。1985年，binnig, gerber和quate开发成功了首台afm（atomic force microscope, 原子力显微镜）。在表面科学、纳米技术领域、生物电子等领域， spm（scanning probe microscopy）逐渐发展成为重要的、多功能材的材料表征工具。stm 要求样品表面导电，而afm可以测试绝缘体的表面形貌和性能。因为stm的基本原理是通过测量探针与样品表面的隧道电流大小来探测表面形貌，而afm是测量探针与样品表面的相互作用力。afm由四个部分组成：机械运动部分、悬臂偏转信号光学检测系统、控制信号反馈系统，成像和信息处理软件系统。探针与样品之间的相互作用力使微悬臂向上或向下偏转，利用激光将光照射在悬臂的末端，反射光的位置改变就用来测器此悬臂的偏移量，这种检测方法最先由meyer 和amer提出。机械部分的运动（探针上、下以及横向扫描运动）是有精密的压电陶瓷控制。激光反射探测采用psd。反馈和成像系统控制探针和样品表面间距以及最后处理实验测试结果。原子力显微镜afm操作模式随着afm技术的发展，各种新应用不断涌现。具体包括如下技术:(1) 接触模式 (contact mode) 最早的模式，探针和样品直接接触，探针容易磨损，因此要求探针较软，即悬臂的弹性系数小，一般小于1n/m。(2) 轻敲模式（tapping mode）也叫dynamic force或者intermittant-contact。探针在外力驱动下共振，探针部分振动位置进入力曲线的排斥区，因此探针间隙性的接触样品表面。探针要求很高的悬臂弹性系数来避免与样品表面的微层水膜咬死。tapping mode对样品作用力小，对软样品特别有利于提高分辨率。同时探针的寿命也较contact mode的稍长。以上是最常用的afm模式，别的模式还有很多：如lateral force microscopy（横向力显微镜，检测样品表面微区对探针横向的摩擦力，可以获得材料的力学性能），noncontact mode force（非接触模式显微镜，与tapping mode基本相同，区别是非接触模式探针工作在力曲线的吸引区），force modulation （力调制显微镜，探针对检测样品表面微区有很大的力，可以获得材料微区的弹性系数等力学性能），cfm chemical force microscopyefm electric force microscopykfm kelvin force microscopymfm magnetic force microscopysthm scanning thermal microscopyscm scanning capacitance microscopescpm scanning chemical potential microscopesecm scanning electrochemical microscopesicm scanning ion conductance microscopeskpm scanning kelvin probe microscopesthm scanning thermal microscopestos scanning tunneling optical spectrometer各种模式和应用要求性能各异的探针，而探针的性能指标是决定显微镜分辨率的最关键的因素。二. afm探针分类及各探针优缺点afm探针基本都是由mems技术加工 si 或者 si3n4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜，如afm（范德法力），静电力显微镜efm（静电力）磁力显微镜mfm（静磁力）侧向力显微镜lfm（探针侧向偏转力）等，因此有对应不同种类显微镜的相应探针。原子力显微镜的探针主要有以下几种：（1）、非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针：最常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。（2）、导电探针：通过对普通探针镀10-50纳米厚的pt（以及别的提高镀层结合力的金属，如cr，ti，pt和ir等）得到。导电探针应用于efm，kfm，scm等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。（3）、磁性探针：应用于mfm，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀co、fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。（4）、大长径比探针：大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点：不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数：针尖高度> 9μm；长径比5:1；针尖半径< 10 nm。（5）、类金刚石碳afm探针/全金刚石探针：一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备（价格很高）。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。还有生物探针（分子功能化），力调制探针，压痕仪探针

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